Wavelength社が新たに開発したレーザ熱量測定システムは、オプティクス製造における費用対効果の高いソリューションの測定装置です。この装置は、反射ミラーおよび透過ウインドウを含む相対的に薄いサンプル(2mm-9mm)のトータル吸収係数(表面および容積)を決定します。吸収測定技術に基づく10.6μmでのレーザオプティクスのコーティング特性を評価する最初の測定装置です。(カタログはこちら) (最新パンフレットはこちら)
ワークステーション | ||
---|---|---|
レーザ | 出力 | 10W |
波長 | 10.6μm | |
出力安定性 | <3% | |
冷却 | 水冷 | |
アライメント光 | 可視光 | |
温度測定 | 分解能 | <0.1度 |
サンプル | ・EFL: 5インチ焦点距離、平と凸、1.5インチ径 ・EFL:7.5インチ焦点距離、平/凸、1.5インチ径 ・透過ウインドウ吸収率〜0.25%、1インチ径、 3mm厚み ・反射ミラー吸収率〜0.25%、1インチ径、 3mm厚み ・ゴールデン・サンプル提供可 |
|
電気系統 | 電源 | 240V (13Aフューズ) |
動作条件 | 振動制御 | 最低VC-B(3μm) |
湿度 | <50% | |
温度 | 24±1度 | |
物理的仕様 | エンクロージャー | 黒色陽極処理フレーム |
専有面積 | 2m(L)×1m(W)×0.5m(H) | |
温度 | 24±1度 | |
重量 | <50Kg | |
コンピューター | ||
モニター | >17インチLCD | |
RAM | 4GB | |
ハードディスク | >100GB | |
PCIスロット | 最低2 | |
ソフトウェア | ||
OS | Windows XPまたはWindows 7 | |
GUI | 温度を度で表示 | |
データを時間領域で表示 | ||
吸収係数を%で表示 | ||
ON/OFFのコントロールボタンでデータ集積を表示 | ||
データ・セーブ・ボタンでファイル名に入力およびフォーマット | ||
データ集積 | 温度のデータ集積の機能で | |
集積速度>1ポイント/度、熱センサーの感度に依存 | ||
データ処理 | 吸収係数の計算処理 | |
テキスト・フォーマットでセーブ・データ | ||
据付ファイル | CD-ROM |