Wavelength社が新たに開発したレーザ熱量測定システムは、オプティクス製造における費用対効果の高いソリューションの測定装置です。この装置は、反射ミラーおよび透過ウインドウを含む相対的に薄いサンプル(2mm-9mm)のトータル吸収係数(表面および容積)を決定します。吸収測定技術に基づく10.6μmでのレーザオプティクスのコーティング特性を評価する最初の測定装置です。(カタログはこちら) (最新パンフレットはこちら)
| ワークステーション | ||
|---|---|---|
| レーザ | 出力 | 10W |
| 波長 | 10.6μm | |
| 出力安定性 | <3% | |
| 冷却 | 水冷 | |
| アライメント光 | 可視光 | |
| 温度測定 | 分解能 | <0.1度 |
| サンプル | ・EFL: 5インチ焦点距離、平と凸、1.5インチ径 ・EFL:7.5インチ焦点距離、平/凸、1.5インチ径 ・透過ウインドウ吸収率〜0.25%、1インチ径、 3mm厚み ・反射ミラー吸収率〜0.25%、1インチ径、 3mm厚み ・ゴールデン・サンプル提供可 |
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| 電気系統 | 電源 | 240V (13Aフューズ) |
| 動作条件 | 振動制御 | 最低VC-B(3μm) |
| 湿度 | <50% | |
| 温度 | 24±1度 | |
| 物理的仕様 | エンクロージャー | 黒色陽極処理フレーム |
| 専有面積 | 2m(L)×1m(W)×0.5m(H) | |
| 温度 | 24±1度 | |
| 重量 | <50Kg | |
| コンピューター | ||
| モニター | >17インチLCD | |
| RAM | 4GB | |
| ハードディスク | >100GB | |
| PCIスロット | 最低2 | |
| ソフトウェア | ||
| OS | Windows XPまたはWindows 7 | |
| GUI | 温度を度で表示 | |
| データを時間領域で表示 | ||
| 吸収係数を%で表示 | ||
| ON/OFFのコントロールボタンでデータ集積を表示 | ||
| データ・セーブ・ボタンでファイル名に入力およびフォーマット | ||
| データ集積 | 温度のデータ集積の機能で | |
| 集積速度>1ポイント/度、熱センサーの感度に依存 | ||
| データ処理 | 吸収係数の計算処理 | |
| テキスト・フォーマットでセーブ・データ | ||
| 据付ファイル | CD-ROM | |